工控摘要：日前，在2014年匹茲堡分析化學及實驗室展上，德州儀器（TI）推出為支持近紅外光（NIR）的使用而優化的DLP®芯片組DLP4500NIR以及相對應的DLPNIRscan™評估模塊（EVM）。
　　
　　IbsenPhotonics總裁兼執行官HenrikSkovAndersen表示：“將DLP技術應用到我們眾多OEM光譜儀中，是對傳統光譜分析的一次革命。通過采用DLP技術，我們的、可編程的緊湊型多色儀可允許預先選擇多個波長的色散，在VIS-NIR范圍中使用經濟的寬帶探測器實現高速透射或吸收測定。這一特性將使客戶能生成動態的測量方案和算法，為關鍵應用贏得速度和準確性，同時保護樣片遠離不必要的照射。”
　　
　　DLP嵌入式產品事業部MariquitaGordon表示：“我們一直在不斷突破DLP技術的極限，開創其在*的科學、工業和醫療解決方案中的應用。通過采用這款全新的近紅外DLP芯片組，光譜儀器設計師可開發出全新的移動設備，將在實驗室中才能實現的靈敏度和性應用于現場應用，同時還可降低整個系統成本。”
　　
　　據悉，通過采用DLP技術，應用于食品、制藥、石油、天然氣以及新興產業的光譜儀，能夠在現場和生產線上提供等同于實驗室質量的性能表現。