產品詳情

★主要技術規格和性能:

產品型號GKH-HTGB-C16

產品名稱高溫柵偏試驗系統

高溫試驗箱PH-201高溫試驗箱一臺，

試驗區域16個 

試驗容量每通道80工位，共16通道。

試驗電源選配TDK的Z+系列電源或安捷倫試驗電源。

電源數量：配置4臺/8臺電源。

輸出范圍：0～35V或0～60V。

主要功能① 正常HTGB試驗，通過按鈕可以選擇正柵壓或負柵壓，兩種偏壓工作時只能二選一，不能同時工作。

② 熱阻測量，即測量HTGB工作時的Tj值。

③ 高溫試驗箱內可放置4層板或8層板。具體需根據器件的封裝尺寸定義。當被測量模塊體積過大時，由于體積的限制，被測器件數據需相應減少。

④ 可選配溫度可達300℃的高溫試驗箱。

測控功能① 檢測每個材料的電壓、漏電流值。

② 漏電流超限保護，自動切斷測量回路。

③ 測量電流范圍：1nA～100uA；

④ 電流分辨率：0.5nA；

⑤ 測量精度：±2%±3nA；

防靜電設計① 設備外殼良好接地；

② 預留靜電接地端子（香蕉插頭插孔）方便操作員連接靜電環。

計算機工業級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標。WINDOWS操作界面，友好的人機對話窗口， 強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學。更有系統查詢診斷功能， 試驗狀況一目了然，方便用戶隨時查驗。

老化板可按客戶的器件封裝定制老化板。

電網要求單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW

外形尺寸W1360mmхH1820mmхD1320mm

重量約500kg 

HTRB/HTGBJ測試介紹

高溫反偏試驗（High Temperature Reverse Bias Test，HTRB）是在高溫下加上反向偏壓的工作模式，由于高溫下漏電流增加，質量差的器件就會失效，以此評估產品的可靠性。

測試溫度：125℃，150℃或175℃。

測試時間：168h，500h，1000h。

測試目的：研究器件在靜態工作模式下，以額定反向直流電壓下或者80%額定反向直流電壓進行工作，以確定偏置條件和溫度隨時間對固態設備的影響。

參考測試標準：JESD22-A108

高溫柵偏試驗（High Temperature Gate Bias, HTGB）主要是用于測定柵氧本身及相關界面的可靠性。

測試溫度：150℃或175℃。

測試時間：500h，1000h。

參考測試標準：JESD22-A108

HTBR和HTGB是可靠性測試中非常常見的測試項目。

適用測試器件：功率二極管， SiC肖特基和肖特基二極管，晶閘管，三端雙向可控硅和IGBT。

試驗設備：高溫反偏試驗機