泰克370B產(chǎn)品的替代品ST5000E

2011年09月15日 22:34:33人氣：3321來源：上海九禮川貿(mào)易有限公司

           ST上海辦事處提供替代泰克370B晶體管圖示儀的*方案，可提供方案的圖片、報(bào)價(jià)和技術(shù)參數(shù)。
       泰克370B是很具有代表性的一款晶體管圖示儀。泰克370B可以滿足許多晶體管產(chǎn)品的測(cè)試需求。泰克370B曲線圖示儀提供了高達(dá)20A/2000V供電功能及IpA和50V的測(cè)量分辨率。370B對(duì)晶體管、半導(dǎo)體閘流管、二極管、SCR、MOSFET、電光器件、太陽能電池、固態(tài)顯示器和其他半導(dǎo)體器件執(zhí)行DC參數(shù)檢定。
       但遺憾的是泰克于2004年宣布停產(chǎn)。這讓很多工程師朋友使用非常不方便。幸運(yùn)的是我們找到了它的替代產(chǎn)品ST5000E。

Scientific Test, Inc，總部位于美國德州,簡(jiǎn)稱STI.專注于分立元器件的測(cè)試源的開發(fā)，我們驚異地發(fā)現(xiàn)美國*級(jí)，火箭級(jí)，衛(wèi)產(chǎn)品所使用的器件報(bào)告。每個(gè)分離元器件報(bào)告，都是采用STI的數(shù)據(jù)存檔格式。現(xiàn)在我把STI其中一個(gè)產(chǎn)品與泰克370B作一下比較，大家就可以知道其替代性有多強(qiáng)。如表1所示，

ST5000E VS 泰克370B
ST5000E	Tektronix 370B
Ranges V/I	2KV, 50MA 400V, 1A 50V, 10A 10V, 50A Optional: 100/500/1000/1200A	2KV, 50MA 400V, 0. 20V, 20A
Software Analysis	STI PCW （supplied） / EXCEL® no additional purchase required	LabView, Metric, etc. third party software additional purchase required
Device Heating	Minimal heating （2% duty cycle）	Device measurements can change because of heating
Data Transfer	Directly to Excel® from PCW Software	Must install floppy on 370B and then move to PC and then load into Excel® or via GBIP to third party software
Speed	IGBT speed -- 4 seconds to 50A full curve	IGBT speed -- 12 seconds to 20A
Curve Labels	Axis labeled, Axis scale labeled	No Axis labels, Axis scale only V or I per division
Ease of Use	Simple, intuitive, fill in the blanks form; easy to change and re-run curve Simple, one click, to save curve settings with user defined file names	Multiple buttons and knobs required to change settings and re-run curve Settings saved by number which must be remembered
PC Based	Yes	Only through third party software
Standard Curves	Yes See Separate Sheet for List	NO
ATE Compatible	Complete DC Parametric Testing with Prober/Handler Interfacing; Complete Datalog with Optional Wafer Mapping	NO
Price	$低 1KV,50A Available Now	$高 Discontinued

表1 泰克370B與ST 5000E 比較

ST 5000E測(cè)試系統(tǒng)是一項(xiàng)高速多用途半導(dǎo)體分立器件智能測(cè)試系統(tǒng)。它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測(cè)試能力。可真實(shí)準(zhǔn)確測(cè)試達(dá)十九大類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件。STI產(chǎn)品使用比較方便，只需要通過USB或者232與電腦連接，通過電腦中友好的人機(jī)界面操作，即可完成測(cè)試。并可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)以EXCEL的格式保存，特性曲線保存相當(dāng)方便。如圖所示，
ST5000E配合CURVE TRACE軟件使用，可實(shí)現(xiàn)對(duì)器件I-V曲線的觀測(cè)，（也就是我們所推薦的ST5000C產(chǎn)品）：

標(biāo)準(zhǔn)特性曲線:
Mosfet （N-Channel & P-Channel）
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
Transistor （NPN & PNP）
HFE vs. IC
BVCE（O,S,R,V） vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE（SAT） vs. IC
VBE（SAT） vs. IC
VBE（ON） vs. IC （use VBE test）
VCE（SAT） vs. IB at a range of IC
VF vs. IF

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