北京瀚文網星科技有限責任公司使用低速和全速USB收發儀和一個具有板載開關、繼電器和接口的自定義特性化板卡，以將高速數字I/O板卡的矢量傳輸到DUT。

該裝置由多個模塊化儀器組成，包括兩個NI PXI-4110可編程電源和兩個NI PXI-4065數字萬用表(DMM)，用于在不同測試應用下測量電流。 我們使用兩個NI PXI-6552高速數字I/O模塊來提供每個DUT的測試模式和參考范例，并根據測試規范將其配置為特定模式。 我們選擇使用NI PXI模塊化儀器來開發我們的應用是因為這些設備為測試臺提供了強大的高性價比平臺，可滿足我們的系統需求。

此外，測試臺還包括了一個數字存儲示波器和一個外部函數/任意波形發生器。 我們結合用于溫度特性化的Thermostream使用這些儀器來獲得測量結果，在-40到85℃的溫度范圍內進行特定溫度的測量。

使用PXI模塊化儀器測試靜態特性

在靜態特性測試中，我們使用PXI-6552數字I/O模塊根據測試規范將DUT和參考樣品設置為特定模式。 PXI-6552減少了特性化板卡所需的繁瑣布線。 我們基于測試規范和特性化方案在幾個步驟內開發了測試序列以及用于DUT和參考樣品的可控電源，以確保芯片的正確運行。 此外，我們還使用PXI-4065 DMM來測量電流。 我們需要對DUT施加多個電壓，并使用NI TestStand通過測試序列控制這些電壓。 我們獲得了多個運行模式下的DUT測量結果，并使用NI TestStand將結果記錄到連接局域網(LAN)的數據庫服務器。

使用NI軟件和PXI進行動態特性測試

測試臺也可用于驗證DUT的動態參數。 我們使用PXI-6552模塊根據下載到DUT和參考樣品的USB規范創建用戶自定義模式， 使用示波器和這個測試臺來測量上升時間、下降時間和USB差分信號傳播延遲等動態參數。 我們還使用LabVIEW、NI LabWindows™/CVI和NI TestStand軟件開發了用于示波器、信號發生器和Thermostream的儀器驅動程序。 這個測試臺的主要目標是在各種電壓和溫度設置下獲得不同硅樣品的大量高精度數據。

USB 2.0的電氣兼容性測試

USB2.0有三種不同的數據傳輸速率 - 低速1.5 Mbps、全速12 Mbps和高速480 Mbps。 這三個數據速率可以同時存在于USB設備網絡。 這使得用戶能夠靈活地搭配不同的外設來滿足各種速度和吞吐量需求。 鑒于USB-IF制定的嚴格法規和符合性測試，靈活性就成為USB的主要優勢之一。 如果要證明合規性和并獲得USB-IF認證，需要設備使用USB-IF認準的測試工具來進行信號完整性、電流和電壓參數以及數據完整性測試。

對于信號質量測試，我們使用示波器來觀察發送和接收的信號。 示波器可用于測量一系列參數，包括信號眼圖、包尾寬度、信令速率、上升/下降時間、交叉電壓和抖動等。 我們將測量過程中采集的數據存儲到緩沖存儲器，并在NI TestStand中使用USB-IF工具來分析信號完整性并生成附有合格/不合格標準的報告。 測試臺通過集成USB-IF測試工具與NI TestStand和NI LabVIEW提供了全功能的USB測試解決方案。

報告生成和分析

我們使用NI TestStand將測試臺特性測試步驟和測量結果存儲在的數據庫服務器進行數據管理和分析。 我們的團隊開發了一個工具，可使用MySQL作為DBMS從數據庫中提取信息并分析數據，同時也可使用PHP和HTML進行處理能力(Cpk)等統計計算并生成測試報告。 除了報告生成和分析外，測試臺還具有賬戶管理功能，可設置不同級別的用戶權限來查看特定數據。 用戶可以選擇和生成具有特定屬性的報告，高亮顯示較差的處理功能，并將原始數據導出到Microsoft Excel。

優化硅芯片特性化的測試時間和質量

北京瀚文網星科技有限責任公司的系統裝置集成了NI PXI模塊化儀器，以提高測試臺特性化的質量。 借助NI PXI模塊化儀器，我們的設置可移植且可部署到系統驗證測量，而且測試臺特性化的時間從幾個月縮短到幾周。 除了減少時間和精力，測試臺特性化的測量數據還可與自動化測試設備(ATE)的設置相關聯，這通常需要花費更多時間和精力。 測試工程師可以快速查看結果，以確定是否需要額外的測試，從而降低整體測試時間。 zui后，我們的報告生成方法還可優化數據管理，并通過互聯網提供測試結果。