高低溫低氣壓試驗箱的檢驗標(biāo)準(zhǔn)

  GB/T5170.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高低溫低氣壓試驗箱（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
    高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10標(biāo)準(zhǔn)適用于GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗M 低氣壓》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z／BM 高溫／低氣壓綜合試驗》。也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
    高低溫低氣壓試驗箱檢驗項目如下：低氣壓偏差、氣壓變化速率、綜合檢驗溫度偏差、綜合檢驗溫度波動度、綜合檢驗溫度均勻度、綜合檢驗氣壓偏差、綜合檢驗每5min溫度平均變化速率、綜合檢驗氣壓變化速率、溫度指示誤差、氣壓指示誤差、溫度過沖量、溫度過沖恢復(fù)時間、噪聲。