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普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、帥先國(guó)產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品，集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，...

半導(dǎo)體器件測(cè)試儀IV曲線儀集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許...

實(shí)施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、帥先國(guó)產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品，集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。...

普賽斯五合一高精度數(shù)字源表（SMU）在半導(dǎo)體IV特性測(cè)試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，為半導(dǎo)體分立器件電性能參數(shù)測(cè)試提供全面的解決方案，包括二極管、MOS管、BJT、...

SPA-6100型分立器件檢測(cè)儀iv+cv測(cè)試儀可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要，靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨...

普賽斯儀表致力于為高校打造芯片及功率器件測(cè)試平臺(tái)，提高學(xué)生動(dòng)手實(shí)踐能力，利用迅速革新的產(chǎn)品解決方案，幫助學(xué)生在實(shí)踐中捕獲、測(cè)量、分析和模擬芯片、器件世界。晶圓級(jí)...

普賽斯分立器件IV曲線測(cè)試儀集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測(cè)量、3500V高壓下n安級(jí)測(cè)量、1000...

S型分立器件iv+cv測(cè)試儀在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測(cè)試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測(cè)試系...

S型iv掃描儀_分立器件I-V測(cè)試儀在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測(cè)試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特...

普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測(cè)量、3500V高壓下n安級(jí)測(cè)量、1000A脈沖大電流輸...

普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對(duì)標(biāo)2400...

普賽斯五合一高精度數(shù)字源表（SMU）在半導(dǎo)體IV特性測(cè)試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，為半導(dǎo)體分立器件電性能參數(shù)測(cè)試提供全面的解決方案，包括二極管、MOS管、BJT、...

數(shù)字源表用于光耦特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)采用一體化設(shè)計(jì)，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬(wàn)用表、示波器等通用儀表；貼合集成電路測(cè)試相關(guān)實(shí)驗(yàn)案例，支撐集成電路相關(guān)課程資源和理論教...

賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，在I-V測(cè)試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)、大功率激光...

普賽斯半導(dǎo)體分立器件測(cè)試設(shè)備采用一體化設(shè)計(jì)，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬(wàn)用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測(cè)試夾具及配套部件，滿足實(shí)際測(cè)試需求；測(cè)試設(shè)備簡(jiǎn)單易...

半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極性晶體管(IGBT)等產(chǎn)品,半導(dǎo)體特性曲...

通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成，過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí)，還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間。實(shí)施特性參數(shù)分析的較佳工具之一是半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)之?dāng)?shù)字源表（SM...

S型數(shù)字源表在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測(cè)試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測(cè)試系統(tǒng)、曲線追蹤儀和...