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上海奧析科學(xué)儀器有限公司
免費(fèi)會員UV754N紫外可見光度計UV754N
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- UV754N 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：221更新時間：2022-12-08 12:35:44
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
紫外可見光度計UV754N
技術(shù)指標(biāo)
紫外可見光度計UV754N主要性能特點
1.2*選擇購買與電腦連接的軟件裝置
可進(jìn)行計算機(jī)操作，并實現(xiàn)譜圖掃描、多點吸光度測量等功能；
*依照標(biāo)準(zhǔn)實驗室檢測標(biāo)準(zhǔn)測定的結(jié)果顯示,存儲和打印檢測結(jié)果
*建立不同方式曲線,曲線自動計算濃度樣本
*可以同時為多種波長提供定量分析(多達(dá)三波長)
*根據(jù)測量需要動力分析
UV754N技術(shù)參數(shù)
2.1 測光方式：單光束，采用Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)
2.2波長范圍: 190～1100nm
2.3波長準(zhǔn)確性: ±0.5nm
2.4波長重復(fù)性: 0.3 nm
2.5光譜帶寬: 4.0nm
2.6透射比范圍: 0～200％T
2.7吸光度范圍: -0.3～3 Abs
＊2.8光度準(zhǔn)確性: ±0.3％T(NIST930濾色片)
＊2.9光度重復(fù)性: 0.2％T (NIST930濾色片)
2.10濃度顯示范圍: 0.000～9999
＊2.11雜散光: 0.05%T(220nm NaI,340nm NaNO2)
2.12漂移: ±0.002Abs/h(500nm,預(yù)熱2h)
＊2.13噪聲: ≤0.001Abs
2.14基線平直度: ±0.003(200-1000nm)
2.15光源: 進(jìn)口氘燈、進(jìn)口鹵鎢燈（壽命1000小時）
2.16光源選擇方式: 自動設(shè)置(325~370nm)
2.17色散元件: 光柵,1200L/mm
2.18檢測器: 硅光二極管
2.19顯示方式: 128*64 LCD或PC
2.20外形尺寸（L×B×H）: 430×360×180（mm）
2.21重量: 14 kg
2.22使用環(huán)境溫度: 5℃～35℃
2.23使用環(huán)境相對濕度: ≤85%
2.24電源: AC 220V/50Hz
UV754N 標(biāo)準(zhǔn)配置
3.1UV754N紫外可見分光光度計主機(jī)
3.2石英比色皿一盒(10×10mm，2只)
3.3 玻璃比色皿一盒（10×10mm，4只）
3.4保修卡一份
3.5電源線一根
3.6 使用說明書一本
3.7 檢驗合格證一份
4.1 20-50mm矩形比色池
UV754N掃描軟件主要功能
有定量分析.時間掃描.波長分析.多波長分析.，輔助功能有光譜運(yùn)算（加減乘除）.光譜導(dǎo)數(shù).光譜疊加、DNA/蛋白質(zhì)測試等等。
1.1 主要功能
定量分析
·2種方法可選建立標(biāo)準(zhǔn)曲線：系數(shù)法和標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定法。
·zui多可以用20個標(biāo)準(zhǔn)樣品來自動標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)曲線或者直接輸入曲線方程系數(shù)來建立標(biāo)準(zhǔn)曲線。
·標(biāo)準(zhǔn)曲線可用3種方式擬合（一階線性過零擬合.一階線性擬合和二階擬合）。
時間掃描
·采樣時間間隔可選（0.5，1.0，2.0，5.0，10.0，30.0和60.0秒）
·掃描曲線顯示方式可切換（時間-透過率或時間-吸光度）
波長掃描
·掃描間隔可選（0.1，0.2，0.5，1.0，2.0和5.0nm）
·掃描曲線顯示方式可切換（波長-透過率，波長-吸光度和波長-能量）
·波長掃描系統(tǒng)基線可存儲.調(diào)用
多波長分析
·多達(dá)15個波長可設(shè)定
光譜處理
光譜數(shù)據(jù)顯示
·可移動光標(biāo)至屏幕中光譜位置，相應(yīng)的數(shù)據(jù)將顯示
峰值谷值自動查找
·掃描結(jié)束后，可自動查找峰值和谷值，并且將數(shù)據(jù)結(jié)果顯示在列表中，結(jié)果也相應(yīng)在圖譜中顯示
縮放圖譜查看
·圖譜的坐標(biāo)X和Y可通過[設(shè)定]中來修改。
導(dǎo)數(shù)光譜
·可對給定圖譜計算并顯示一階到四階導(dǎo)數(shù)圖譜。在吸光度模式下，導(dǎo)數(shù)光譜是一種極為有效的方法。
光譜運(yùn)算
·可對兩個給定的圖譜進(jìn)行加.減.乘.除運(yùn)算，結(jié)果現(xiàn)在為圖譜。
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