Polytec近紅外光譜儀系統(tǒng)PSS

技術(shù)規(guī)格

1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射

2) SMA 905 光纖連接

3) 工業(yè)防護(hù)等級(jí) IP64

4) 帶藍(lán)寶石窗的不銹鋼外殼（僅接觸式探頭）

5) 配置可滿足食品行業(yè)通行法規(guī)或防爆認(rèn)證（僅接觸式探頭）

6) 適用的測(cè)量距離從 150 毫米到 600 毫米不等（非接觸式探頭）

7) 通過(guò)光源和傳感器單元的組合，適用的測(cè)量距離從0 到 50毫米不等（接觸式探頭）

技術(shù)特點(diǎn)

1) 近紅外光譜儀是過(guò)程分析中重要和廣泛使用的方法之一。無(wú)損，*，無(wú)需樣品制備，不產(chǎn)生浪費(fèi)

2) 采用二極管陣列技術(shù)，即使在高測(cè)量速率下也能提供穩(wěn)定可靠的測(cè)量結(jié)果

3) 創(chuàng)新的透射光柵的設(shè)計(jì)，能夠?qū)崿F(xiàn)大的靈敏度和極低的散射光（ 對(duì)比度 > 1：50,000 ），同時(shí)保證*穩(wěn)定性

4) 全自動(dòng)的系統(tǒng)校準(zhǔn)，可調(diào)整的測(cè)量光斑大小

5) 標(biāo)準(zhǔn)化的光譜范圍，極低的散射光水平，*的測(cè)量速率，接近理論極限的均勻的光學(xué)分辨率

6) 接觸式和非接觸式探頭專(zhuān)為工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，可滿足苛刻的現(xiàn)場(chǎng)要求，無(wú)懼灰塵、濕氣、壓力和溫度等種種因素的影響，符合通用的生產(chǎn)和安全規(guī)定，例如可以用于食品工業(yè)或防爆區(qū)

7) 可通過(guò)多探頭光學(xué)切換模塊實(shí)現(xiàn)一臺(tái)設(shè)備配套多個(gè)探頭的應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)多條生產(chǎn)線互不干擾的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)控和控制

8) 提供標(biāo)準(zhǔn)模塊化的設(shè)備和軟件，高度的靈活性，易于集成，簡(jiǎn)化操作

客戶價(jià)值

1) 從原材料的實(shí)時(shí)檢測(cè)到終產(chǎn)品的質(zhì)量控制的生產(chǎn)全過(guò)程，通過(guò)減少?gòu)U品率來(lái)提高效率和降低成本

2) 對(duì)整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程的自動(dòng)實(shí)時(shí)控制，確保產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性，對(duì)生產(chǎn)工藝過(guò)程實(shí)現(xiàn)全程監(jiān)測(cè)并進(jìn)行優(yōu)化

3) 一臺(tái)儀器可以測(cè)量多個(gè)參數(shù)，降低客戶設(shè)備投資成本

4) 無(wú)需樣品制備過(guò)程，加快檢測(cè)通量

5) 對(duì)待測(cè)樣品絲毫不產(chǎn)生破壞，非侵入性測(cè)量，也不存在樣品消耗

6) 為每位客戶制定詳細(xì)的年度維護(hù)及預(yù)防性維修方案，保證設(shè)備*連續(xù)可靠運(yùn)行，真正實(shí)現(xiàn)極低的使用和維護(hù)成本

7) 便捷的操作和維護(hù)

Polytec近紅外光譜儀系統(tǒng)PSS應(yīng)用

1) 固體（如散裝貨物 ，粉末 ，紙張或紡織品）

2) 流體（例如液體 ，懸浮液 ，擴(kuò)散和粘性介質(zhì)）

3) 氣體（如氣溶膠或煙霧）

4) 非接觸式探頭用于遠(yuǎn)距離測(cè)量的反射探頭（ 傳送帶、網(wǎng)狀應(yīng)用等等 ）

5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸（ 管道，滑槽，漏斗等 ）測(cè)量

6) 青貯玉米檢測(cè)

7) 飼料檢測(cè)

8) 食品

9) 制藥

10) 工業(yè)在線質(zhì)控

11) 產(chǎn)品篩選（例如按照顆粒大小分類(lèi)，或按照成分不同進(jìn)行分類(lèi)）

12) 膜層厚度測(cè)量

可選配置

型號(hào)：PSS 1720

光譜范圍：850 – 1650 nm

檢測(cè)器：InGaAs

像素：256

分辨率：<6.4 nm或<9.5 nm

型號(hào)：PSS 1750

光譜范圍：850 – 1650 nm

檢測(cè)器：InGaAs

像素：512

分辨率：<3.2 nm或<4.8 nm

型號(hào)：PSS 2120

光譜范圍：1100 – 2100 nm

檢測(cè)器：InGaAs

像素：256

分辨率：<7.9 nm或<11.9 nm

型號(hào)：PSS 2220

光譜范圍：1200 – 2200 nm

檢測(cè)器：InGaAs

像素：256

分辨率：256 <7.9 nm或<11.9 nm

配套附件

1) 多探頭光學(xué)切換模塊

2) 直線型單光纖光纜

3) 探頭電源和控制電纜

4) 探頭支架

5) 旋轉(zhuǎn)臺(tái)

技術(shù)原理

與常用的化學(xué)分析方法不同，近紅外光譜分析法是一種間接分析技術(shù)，是用統(tǒng)計(jì)的方法在樣品待測(cè)屬性值與近紅外光譜數(shù)據(jù)之間建立一個(gè)關(guān)聯(lián)模型（或稱(chēng)校正模型，Calibration Model）。近紅外光譜法是利用含有氫基團(tuán)（X-H，X為：C，O，N，S 等）化學(xué)鍵(X-H)伸縮振動(dòng)倍頻和合頻，在近紅外區(qū)的吸收光譜，通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)計(jì)量學(xué)多元校正方法，把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)，建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)之間的關(guān)系（校正模型）。在進(jìn)行未知樣品預(yù)測(cè)時(shí)，應(yīng)用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜，就可定量預(yù)測(cè)其成分濃度或性質(zhì)。