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深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀

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更新時間：2023-01-15 10:21:29瀏覽次數(shù)：137次

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深圳市方源儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：412條

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產(chǎn)品簡介

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀免去了對多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。牛津儀器總代理深圳市方源儀器有限公司提供可靠的高品質(zhì)產(chǎn)品，深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀手持式類型易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購買。

詳細(xì)介紹

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀免去了對多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。牛津儀器總代理深圳市方源儀器有限公司提供可靠的高品質(zhì)產(chǎn)品，手持式類型易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購買。

產(chǎn)品儀器探頭:

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀的ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計，此單探頭可以測量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎬。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

測量注意事項：

⒈在進行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭**附著物質(zhì)。

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀產(chǎn)品規(guī)格：

品牌：英國牛津儀器Oxford

產(chǎn)品型號：CMI243

檢測范圍：鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc），包括緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層。

深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀測量鍍層范圍(周)：

鐵上鍍層	鍍層厚度范圍	探頭
鋅Zn	0-1.5mi1 (38um)	ECP-M(標(biāo)配)
鎘Cd	0-1.5mi1 (38um)	ECP-M(標(biāo)配)
鉻Cr	0-1.5mi1 (38um)	ECP-M(標(biāo)配)
銅Cu	0-0.40mi1 (10um)	ECP-M(標(biāo)配)
Non-Mag/Fe	0-50mi1 (1270um)	SMP-1（選購）