手機在環(huán)境可靠性試驗中容易出現(xiàn)的故障

在我們?nèi)粘５脑囼灩ぷ髦邪l(fā)現(xiàn)，手機在環(huán)境可靠性試驗中也存在較多問題，如高溫、低溫、濕熱試驗中會出現(xiàn)射頻指標(biāo)不合格而導(dǎo)致手機工作不正常；振動試驗中手機的頻率和相位誤差超標(biāo)引起手機在移動體上工作不可靠；跌落試驗中手機天線脫落、屏幕無顯示、屏幕出現(xiàn)放射狀裂紋、通話為單項通話；翻蓋（滑蓋）壽命試驗中轉(zhuǎn)軸故障、軸肩損壞、殼體裂紋、上蓋*斷裂、屏幕無顯示、送受話工作不正常等。出現(xiàn)上述現(xiàn)象可能是很多原因造成的，電路結(jié)構(gòu)及參數(shù)配置不合理、電子元器件的選用不當(dāng)可能會造成高溫、低溫、濕熱、振動試驗中的性能指標(biāo)不合格；元器件的虛接、屏幕部分的保護(hù)不足、連接器的接口過松會導(dǎo)致跌落過程中手機出現(xiàn)故障；模具設(shè)計不合理、受力點處結(jié)構(gòu)單薄、裝配時轉(zhuǎn)軸的角度和力度不合適、轉(zhuǎn)軸的可靠性不夠、FPC的耐折性不強、手機材質(zhì)較差都可導(dǎo)致翻蓋壽命試驗不合格。
5 目前在手機環(huán)境可靠性測試方面存在的問題

　　目前，隨著手機制造商的增多，市場競爭的加劇，幾乎所有的制造商都在強調(diào)只有擴(kuò)大規(guī)模才有生存、發(fā)展的希望，出于這一需要，為激發(fā)消費者的需求，手機制造商推出新款機型的速度不斷加快，研發(fā)周期不斷被縮短，原來通常需經(jīng)過設(shè)計、研發(fā)、試驗、試生產(chǎn)、試用、市場反饋、小范圍推廣等幾個階段才會推向市場的一款手機，由于縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到投放市場的時間，其中某些重要的試驗環(huán)節(jié)就被簡化了，因而產(chǎn)品在可靠性方面存在的問題就難以被發(fā)現(xiàn)；另一方面，一些實力比較弱的手機生產(chǎn)企業(yè)還沒有建立起完備的測試、試驗體系，也就缺乏必要的測試手段來保證產(chǎn)品質(zhì)量。從短期效應(yīng)看，企業(yè)盲目取消或減少必要的測試，可以縮短研發(fā)周期，加快新品推出速度，節(jié)約資金，減少產(chǎn)品成本，從而提高*。但從企業(yè)的長遠(yuǎn)發(fā)展來看，售后成本增加，品牌形象受到影響，企業(yè)得不償失。國有品牌手機的*這兩年下滑迅速，其中就有這方面的原因。因而，企業(yè)很有必要加強手機的可靠性測試，通過測試來改進(jìn)和提高手機的質(zhì)量。
手機環(huán)境可靠性試驗的內(nèi)容
　　任何一款手機新品的上市，都需要經(jīng)過*檢驗單位的嚴(yán)格測試。這些測試內(nèi)容中非常重要的一項就是手機的環(huán)境適應(yīng)性試驗及部分部件的壽命試驗。在目前的標(biāo)準(zhǔn)文件中，對環(huán)境試驗所規(guī)定的環(huán)境條件通常比手機使用所處的環(huán)境要嚴(yán)酷的多，并且更有代表性。由于我國幅員遼闊，地域廣大，南北溫差大，因而每一種手機都要經(jīng)過-10℃和+55℃各4h的工作溫度試驗；還要進(jìn)行溫度+40℃、相對濕度92%Rh、連續(xù)48h左右的恒溫恒濕試驗，試驗后射頻指標(biāo)和功能均需符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這三項試驗?zāi)M手機在存儲或使用過程中可能遇到的氣候環(huán)境條件，考察手機在這些環(huán)境條件中外殼材料是否發(fā)生硬化或脆化導(dǎo)致出現(xiàn)裂紋，電子器件（電阻、電容等）性能是否改變，溫度梯度不同和不同材料的溫度變化系數(shù)是否導(dǎo)致電子線路的穩(wěn)定性發(fā)生變化，是否會發(fā)生潮氣與電路板相互作用產(chǎn)生腐蝕層等，用于評價手機在低溫、高溫、濕熱情況下整體性能是否會下降。另外，手機還需要在隨機振動條件下進(jìn)行性能測試，在跌落高度為1.0m、每個面向下跌落2次、6面共計12次跌落在剛性表面上的跌落試驗后進(jìn)行功能檢查。手機是隨身攜帶的產(chǎn)品，而人又經(jīng)常不斷地移動，因此在振動條件下進(jìn)行在線性能測試是為了考察手機在移動的環(huán)境中能否正常工作，而跌落試驗是為了檢驗手機對于用戶的意外使用不當(dāng)是否有一定的保護(hù)性。除此之外，直板手機需對按鍵進(jìn)行壽命試驗，折疊或滑蓋手機除需做按鍵壽命試驗外，還需進(jìn)行翻蓋或滑蓋壽命試驗，要求按鍵壽命10萬次，翻蓋或滑蓋5萬次（這相當(dāng)于一部手機每天接打50次，連續(xù)使用約3年），此后測試手機的功能是否正常。上述試驗需持續(xù)較長時間，只有通過這些試驗全部合格的樣品才能獲得通過。